江苏一六仪器 X荧光镀层测厚仪 一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系!
1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,光谱测厚仪,防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)
5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时,152.4mmXY轴手动时,269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,膜厚测试仪,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集,镀层测厚仪,先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,泰安测厚仪,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
上照式:通常都有Z轴可移动,所以可对形状复杂的样品(如凹面内)做定位并且测试,一般可定位到2mm以内的深度,如Thick800A,另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置,搭配先进的算法,可定位到80mm以内的深度,如XDL237
下照式:通常都没有Z轴可移动,所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行定位并测试,但操作简单,造价相对低;部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品,同时也抬高了价格
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